X荧光仪类

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AD3000S能量色散X荧光分析仪
  1.主机采用数字化面板设计,管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示,可以根据分析元素种类不同软件自动调整参数。
  2.采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,Be(铍)窗厚200μm,靶材Rh(铑靶)。真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围。
  3.采用进口高能量分辨率的电致冷Si-PIN半导体探测器,电致冷,无需液氮制冷,使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)。
  4.多功能样品室
  样品种类:固体、粉末、液体均可,如压片无需添加任何试剂。
  腔内多样品座:一次可以放置12个样品,自动控制,精确定位。
  腔内环境:空气或真空。   
  5.高压电源:电压 0V-50kV连续可调;电流O-lmA连续可调。数码显示,精度高,无故障操作。
  6.1024道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便地了解样品的组成。
  7.可一次性实现多元素的快速、无损、准确分析。
  8.自动稳谱,消除谱峰漂移影响,确保仪器长期稳定。
  9.整体设计合理,性能稳定,运行可靠。
  10.全中文Windows应用软件,操作简单。

  11.分析元素:Na-U,主要是Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等,分析下限:

主要技术参数:

元素名称    探测下限(%)
 Al         0.01
 Si         0.01
 P          0.01
 S          0.01
 K          0.01
 Ca         0.01
 Ti         0.001
 V          0.001
 Cr         0.001
 Mn         0.001
 Fe         0.001
 Cu         0.001
 Pb         0.001
 Zn         0.001

12.分析范围:1ppm-99.9%.
13.能量范围:1-30keV.
14.测量时间:<200S.
15.重复性:<0.1%.
16.稳定性:<0.01%.
17.辐射剂量:<25μsv/h.
18.软件优势:
   WinXP界面应用软件,全中文操作系统操作。
   软件数据库功能强大,谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等.
   所有参数通过软件调节,数码管自动显示,无需手动调节面板。
   谱处理、扣除背景、元素识别、剥离重叠谱自动进行.
   谱峰重叠时,软件可以解谱.
   软件自动稳谱,消除环境变化影响.
   线性拟合、基体校正、结果显示。
19.仪器运行费用为零。

图片展示:


元素名称    探测下限(%)
 Al         0.01
 Si         0.01
 P          0.01
 S          0.01
 K          0.01
 Ca         0.01
 Ti         0.001
 V          0.001
 Cr         0.001
 Mn         0.001
 Fe         0.001
 Cu         0.001
 Pb         0.001
 Zn         0.001

12.分析范围:1ppm-99.9%.
13.能量范围:1-30keV.
14.测量时间:<200S.
15.重复性:<0.1%.
16.稳定性:<0.01%.
17.辐射剂量:<25μsv/h.
18.软件优势:
   WinXP界面应用软件,全中文操作系统操作。
   软件数据库功能强大,谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等.
   所有参数通过软件调节,数码管自动显示,无需手动调节面板。
   谱处理、扣除背景、元素识别、剥离重叠谱自动进行.
   谱峰重叠时,软件可以解谱.
   软件自动稳谱,消除环境变化影响.
   线性拟合、基体校正、结果显示。
19.仪器运行费用为零。

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